Chiny Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. Sitemap

english

français

Deutsch

Italiano

русский

Español

português

Nederlandse

ελληνικά

日本語

한국어

Polski

فارسی

বাংলা

ไทย

tiếng Việt

العربية

हिन्दी

Türkçe

bahasa indonesia



Do domu

O nas

Profil przedsiębiorstwa

Wycieczka po fabryce

Kontrola jakości

Częste pytania

produkty

Źródłowa jednostka miary

Dwu kanałowy licznik źródła

Urządzenia do badań wielokanałowych

Wyposażenie wysokiego prądu

Źródło mocy wysokiego napięcia

Badanie zasilania laserowego

Karta pozyskiwania danych

Systemy badawcze półprzewodników

rozwiązania

wideo

Bloga

Skontaktuj się z nami

zacytować

Do domu Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. Sitemap

firma

wideo

O nas

Skontaktuj się z nami

Bloga

rozwiązania

produkty

Źródłowa jednostka miary

Pulse Source Meter P300 300V 1A 10A Source Measure Unit Semiconductor Testing

30V 4A 30A Jednostka pomiarowa źródła impulsu P100B Miernik źródeł dla urządzeń półprzewodnikowych

Półprzewodniki Jednostka pomiaru źródła 100V 1A 10A Jednostka pomiaru źródła impulsu P200

30V 1A 10A P100 Miernik źródeł czterech kwadrantów

S200B Miernik źródła prądu stałego 100V 3A półprzewodnikowa jednostka pomiarowa

Jednostka pomiarowa źródła precyzyjnego półprzewodnika S300B 300V 3A Meter źródła prądu stałego

Dwu kanałowy licznik źródła

30V 30A Podwójny kanał źródła pomiaru DP100B z pomiarem napięcia / prądu

100V 30A Dwu kanałowy licznik źródła DP200B Jednostka pomiarowa źródła do badania BJT

300V 30A Jednostka licznika podwójnych źródeł DP300B SMU pomiar do badania właściwości elektrycznych

Urządzenia do badań wielokanałowych

10V 500mA PXI Jednostka pomiarowa źródła podkarty pulsu PXI SMU Jednostka CBI401

18V 1A Cztery kanały podkarty Puls źródła jednostka pomiarowa CBI403 SMU pomiar

10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Źródło jednostki pomiarowej CBI402

18V 1A PXI SMU Cztery kanały podkarty źródła prądu stałego jednostka licznika CS402

Podkartka PXI SMU 10V 200mA do testowania wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych

300V 1A modułowa jednostka SMU jednokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300

Wyposażenie wysokiego prądu

300A 30V Prąd impulsowy źródło wysokiego prądu HCPL030 Do badania SiC IGBT GaN HEMT

1000A 18V Wysoki Prąd Impulsowy Źródło prądu HCPL100 Programatyczny zasilacz

Źródło mocy wysokiego napięcia

2200V 100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E200 Stałe źródło zasilania

3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300 Wysokonapięciowe źródło zasilania

8000V 40mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E800 Do badań SiC / IGBT / GaN HEMT

1200V 100mA Wysokonapięciowe urządzenie pomiarowe źródła zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT

Badanie zasilania laserowego

20A CW / 20A QCW Badanie zasilacza laserowego HCPL002 Wysokiej mocy zasilacz laserowy diody

HCPL006 Zasilanie laserowe diodowe 60A CW/60A QCW Zasilanie laserowe do badań

60A CW / 600A QCW Badanie zasilacza laserowego HCPL060 zasilacz laserowy diodowy

Karta pozyskiwania danych

2MS/S Wielokanałowa Pxi SMU Wysokiej Prędkości Karta Akwizycji Danych A400B Wysokiej Prędkości Karta Daq

1MS/S Karta pozyskiwania danych A400 4 kanały 16 bitów Karta rozdzielczości ADC Daq

Systemy badawcze półprzewodników

1200V/100A Analytyk parametrów półprzewodników SPA6100 Systemy badań półprzewodników

System badań C-V urządzeń półprzewodnikowych 10Hz-1MHz

1000A System badań czujników prądu CTMS Sprzęt do badań półprzewodników

Systemy badawcze półprzewodników LDBI z laserowym starzeniem

10kV/6000A Analizator urządzenia zasilania Test statyczny PMST dla Mosfet BJT IGBT SiC GaN półprzewodnik

1 2 3 4