Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
jakość Źródłowa jednostka miary, Dwu kanałowy licznik źródła producent z Chin
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
February 17, 2025
Z jednostką pomiaru źródła jako rdzeniem, koncentrując się na testowaniu półprzewodników mocy.
Pragmatyczny.
Niezawodne
Gospodarcze
Kompatybilne
Inteligentny.
Standardowy
Wspaniałe.
Pragmatyczny.
Niezawodne
Gospodarcze
Kompatybilne
Inteligentny.
Standardowy
Wspaniałe.
Popularne filmy
-
01:24
![PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność]()
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
February 17, 2025 -
00:36
![30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100]()
30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100
February 24, 2025 -
00:34
![Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI]()
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów]()
300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów
February 24, 2025 -
00:24
![300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT]()
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
February 25, 2025 -
00:24
![1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT]()
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
February 25, 2025 -
00:24
![300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej]()
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej
February 24, 2025
Systemy badawcze półprzewodników
-
00:34
![Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI]()
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS]()
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN]()
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
February 26, 2025 -
00:36
![1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100]()
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
February 26, 2025
Ostatnie filmy
-
00:34
![Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI]()
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS]()
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN]()
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
February 26, 2025 -
00:36
![1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100]()
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
February 26, 2025 -
00:27
![2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość]()
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
February 26, 2025 -
00:24
![Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s]()
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
February 26, 2025 -
00:24
![60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060]()
60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060
February 25, 2025
