Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
jakość Źródłowa jednostka miary, Dwu kanałowy licznik źródła producent z Chin
Wszystkie filmy
-
00:34
![Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI]()
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
February 26, 2025 -
00:24
![1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS]()
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
February 26, 2025 -
00:30
![10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN]()
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
February 26, 2025 -
00:36
![1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100]()
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
February 26, 2025 -
00:27
![2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość]()
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
February 26, 2025 -
00:24
![Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s]()
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
February 26, 2025 -
00:24
![60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060]()
60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060
February 25, 2025 -
00:24
![60A CW/60A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL006]()
60A CW/60A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL006
February 25, 2025 -
00:24
![20A CW/20A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL002]()
20A CW/20A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL002
February 25, 2025 -
00:27
![8000V/40mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E800]()
8000V/40mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E800
February 25, 2025 -
00:24
![300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT]()
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
February 25, 2025 -
00:24
![3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300]()
3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300
February 25, 2025 -
00:27
![2200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E200]()
2200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E200
February 25, 2025 -
00:24
![1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT]()
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
February 25, 2025 -
00:24
![1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT]()
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
February 25, 2025 -
00:24
![S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych]()
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
February 24, 2025 -
00:24
![300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B]()
300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B
February 24, 2025 -
00:24
![30V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P100]()
30V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P100
February 24, 2025 -
00:24
![100V/1A/10A Puls Source Meter P200 do charakterystyki półprzewodników]()
100V/1A/10A Puls Source Meter P200 do charakterystyki półprzewodników
February 24, 2025 -
00:24
![300V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P300]()
300V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P300
February 24, 2025 -
00:24
![300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów]()
300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów
February 24, 2025 -
00:24
![Jednostka pomiarowa źródła impulsu wysokiego prądu HCP100 z maksymalnym prądem wyjściowym impulsu 30A i maksymalnym napięciem wyjściowym 50V]()
Jednostka pomiarowa źródła impulsu wysokiego prądu HCP100 z maksymalnym prądem wyjściowym impulsu 30A i maksymalnym napięciem wyjściowym 50V
February 24, 2025 -
00:25
![Jednostka pomiarowa źródła impulsu prądu wysokiego 100 V/100 A HCP300 dla IGBT]()
Jednostka pomiarowa źródła impulsu prądu wysokiego 100 V/100 A HCP300 dla IGBT
February 24, 2025 -
00:24
![300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej]()
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej
February 24, 2025 -
00:24
![100V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP200B do badania BJT]()
100V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP200B do badania BJT
February 24, 2025 -
00:24
![30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem]()
30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem
February 24, 2025 -
00:26
![10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401]()
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
February 24, 2025 -
00:24
![10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401]()
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
February 24, 2025 -
00:24
![10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402]()
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
February 24, 2025 -
00:28
![18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403]()
18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403
February 24, 2025 -
00:28
![3-sloty podkarty Plug-in Source Measure Unit 1003C z niezawodnością i skalowalnością klasy przemysłowej]()
3-sloty podkarty Plug-in Source Measure Unit 1003C z niezawodnością i skalowalnością klasy przemysłowej
February 24, 2025 -
00:24
![30V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS100]()
30V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS100
February 24, 2025 -
00:24
![100V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS200]()
100V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS200
February 24, 2025 -
00:24
![300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300]()
300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300
February 24, 2025 -
00:27
![18V/1A Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa CS402]()
18V/1A Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa CS402
February 24, 2025 -
00:27
![10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401]()
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
February 24, 2025 -
00:29
![10V/200mA Czterokanałowy podkartonowy licznik źródła CS400 do badań wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych]()
10V/200mA Czterokanałowy podkartonowy licznik źródła CS400 do badań wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych
February 24, 2025 -
00:36
![30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100]()
30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100
February 24, 2025 -
01:24
![PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność]()
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
February 17, 2025
