Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Czat Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Website

Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI

Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Category Connection: Systemy badawcze półprzewodników
Czat Skontaktuj się z nami
Wprowadzenie wielokanalizowego systemu starzenia laserowego o dużej mocy LDBI, zaprojektowanego do testowania wysokiej mocy półprzewodnikowych chipów laserowych na poziomie kilowatów i modułów laserowych pompowych,z napędem wysokim, napięciem cienkim, napięciem stałym,stabilny prąd, silna zdolność przeciwdziałania zakłóceniom i podwójne obwody ochronne, z 16 niezależnymi kanałami i urządzeniem zbierania światła schłodzonym wodą, idealny do testowania urządzeń zasilania półprzewodników,Badania materiałów i badania komponentów elektroniki mocy pojazdów nowej energiiWitamy na naszej stronie internetowej!
Znaków:
#Badania tranzystorów igbt #IGBT mosfet tester #Wykrywacz krzywej półprzewodnika
Powiązane filmy
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS 00:24

1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403 00:28

18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300 00:24

3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 25, 2025
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s 00:24

Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
Karta pozyskiwania danych
February 26, 2025
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych 00:24

S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025