Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Czat Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania O nas Oficjalna strona internetowa
Polski
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS

Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Czat
Wprowadzenie systemu badań czujników prądu 1000A CTMS, kompleksowej platformy do pomiaru parametrów statycznych i dynamicznych różnych czujników prądu o wysokich właściwościach prądu,szybko rosnące krawędzie, i dokładne pomiary, idealne do badań uniwersyteckich, laboratoriów i zastosowań przemysłowych, witamy na naszej stronie internetowej!
Systemy badawcze półprzewodników
Powiązane filmy
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI 00:34
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI

Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów 00:24
300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów

300V/4A/30A Jednostka pomiaru źródła impulsu P300B dla półprzewodników i materiałów
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B 00:24
300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B

300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P300 00:24
300V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P300

300V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P300
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100 00:36
30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100

30V/1A Badanie właściwości elektrycznych półprzewodników źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa S100
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT 00:24
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT

1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 25, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej 00:24
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej

300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025