Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Czat Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Website

18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403

Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
Category Connection: Urządzenia do badań wielokanałowych
Czat Skontaktuj się z nami
Przedstawiamy CBI403, wysokoprecyzyjną czterokanałową jednostkę pomiarową źródła impulsu, zaprojektowaną do zaawansowanej charakterystyki elektrycznej, oferującą dokładność 0,1% i 51⁄2-cyfrową rozdzielczość,z funkcją czterokwadrantową, podwójny tryb testowania i wysoka gęstość kanału, idealny do walidacji półprzewodnika na poziomie płytki i testowania naprężenia równoległego wielu urządzeń, Witamy na naszej stronie internetowej!
Znaków:
#Jednostka Smu #pxi SMU #Jednostka miary źródła PXI
Powiązane filmy
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401 00:26

10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401 00:24

10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI 00:34

Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300 00:24

3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 25, 2025