Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Czat Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Website

10V/200mA Czterokanałowy podkartonowy licznik źródła CS400 do badań wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych

Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
Category Connection: Urządzenia do badań wielokanałowych
Czat Skontaktuj się z nami
Wprowadzenie CS400, czterokanałowego czterodanowego podkartowego licznika źródłowego o wysokiej gęstości do testowania wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych, oferującego zakres napięć ±10V, zakres prądu 5uA-200mA,i maksymalna prędkość pobierania próbek 1000 S/s, z dokładnością 0,10%, idealnie nadaje się do badań półprzewodników mocy, urządzeń dyskretnych i układów scalonych.
Znaków:
#Jednostka Smu #pxi SMU #Jednostka miary źródła PXI
Powiązane filmy
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401 00:26

10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401 00:24

10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s 00:24

Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
Karta pozyskiwania danych
February 26, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI 00:34

Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025