Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Strona internetowa

Jednostka pomiarowa źródła impulsu wysokiego prądu HCP100 z maksymalnym prądem wyjściowym impulsu 30A i maksymalnym napięciem wyjściowym 50V

Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
Keyword: Źródłowa jednostka miary
Skontaktuj się z nami
Znaków:
#jednostka miernika źródła #Jednostka pomiaru źródła #Jednostka pomiaru źródła precyzji
Video Description:
Discover the High Current Pulse Source Measure Unit HCP100, featuring max pulse output current of 30A and max output voltage of 50V. Ideal for power MOS, Schottky diode, and solar cell module testing with 0.1% accuracy.
Powiązane filmy
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B 00:24

300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS 00:24

1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT 00:24

1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 24, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem 00:24

30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 16, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401 00:26

10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025