Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Strona internetowa

20A CW/20A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL002

Badanie zasilania laserowego
February 25, 2025
Skontaktuj się z nami
Video Description:
Obejrzyj ten przegląd, aby dowiedzieć się, jak Wuhan Precise Instrument podchodzi do testów laserowych dużej mocy. W tym filmie omawiamy zasilacz laserowy HCPL002 o dużej mocy 20 A CW / 20 A QCW i pokazujemy, jak pasuje on do rzeczywistych procesów testowania wydajności elektrycznej półprzewodników. Poznasz rolę instrumentu w konfiguracjach urządzeń zasilających i testów starzenia laserowego, dowiesz się, w jaki sposób wspiera precyzyjną kontrolę prądu i napięcia oraz zrozumiesz, dlaczego zintegrowane, wysokowydajne testowanie ma znaczenie w przypadku materiałów półprzewodnikowych, płytek i urządzeń trzeciej generacji. Idealny dla inżynierów, badaczy i specjalistów B2B oceniających niezawodne rozwiązania testowe.
Powiązane filmy
60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060 00:24

60A CW/600A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL060
Badanie zasilania laserowego
February 25, 2025
60A CW/60A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL006 00:24

60A CW/60A QCW Badanie wysokiej mocy Zasilanie laserowe HCPL006
Badanie zasilania laserowego
February 25, 2025
300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300 00:24

300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
100V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS200 00:24

100V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS200
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
100V/1A/10A Puls Source Meter P200 do charakterystyki półprzewodników 00:24

100V/1A/10A Puls Source Meter P200 do charakterystyki półprzewodników
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
Jednostka pomiarowa źródła impulsu wysokiego prądu HCP100 z maksymalnym prądem wyjściowym impulsu 30A i maksymalnym napięciem wyjściowym 50V 00:24

Jednostka pomiarowa źródła impulsu wysokiego prądu HCP100 z maksymalnym prądem wyjściowym impulsu 30A i maksymalnym napięciem wyjściowym 50V
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025