Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Strona internetowa

18V/1A Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa CS402

Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
Keyword: Urządzenia do badań wielokanałowych
Skontaktuj się z nami
Znaków:
#Jednostka Smu #pxi SMU #Jednostka miary źródła PXI
Video Description:
Discover the 18V 1A PXI SMU Four Channel Sub Card DC Source Meter Unit CS402, a modular SMU solution for high-volume device testing. Featuring 4 channels per subcard and synchronized control for up to 40 channels, it reduces system costs by 50%. Ideal for LED/OLED aging tests and semiconductor wafer inspections.
Powiązane filmy
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B 00:24

300V/3A Badanie półprzewodników Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego S300B
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS 00:24

1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT 00:24

1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 24, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem 00:24

30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 16, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401 00:26

10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025