Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Strona internetowa

300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300

Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
Keyword: Urządzenia do badań wielokanałowych
Skontaktuj się z nami
Znaków:
#Jednostka Smu #pxi SMU #Jednostka miary źródła PXI
Video Description:
Discover the 300V/1A Single-channel Sub Card DC Source Measure Unit CS300, a high-precision modular SMU designed for semiconductor and nanomaterial testing. With 300V/1A output, four-quadrant operation, and seamless host integration, it ensures accuracy in complex test scenarios.
Powiązane filmy
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401 00:24

10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403 00:28

18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS 00:24

1000A Prąd czujnik system badawczy CTMS
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych 00:24

S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT 00:24

1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 24, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 25, 2025
30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem 00:24

30V/30A Dwu kanałowy licznik źródła DP100B z pomiarem napięcia/prądu i czterokwadrantowym działaniem
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025