18V/1A Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego Jednostka pomiarowa CS402
Wprowadzenie CS402, modułowego rozwiązania SMU do testowania urządzeń o dużej objętości, zawierającego 4 kanały na podkartę i zsynchronizowane sterowanie maksymalnie 40 kanałami, zmniejszające koszty integracji systemu o 50%.Z elastyczną integracją oprogramowania, czterokanałowa synchronizacja i precyzyjne pomiary, jest zoptymalizowana dla scenariuszy wysokiej przepustowości.
Źródłowa jednostka miary
-
18V 1A PXI SMU Cztery kanały podkarty źródła prądu stałego jednostka licznika CS402
Skontaktuj się teraz -
10V 500mA PXI Jednostka pomiarowa źródła podkarty pulsu PXI SMU Jednostka CBI401
Skontaktuj się teraz -
18V 1A Cztery kanały podkarty Puls źródła jednostka pomiarowa CBI403 SMU pomiar
Skontaktuj się teraz -
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Źródło jednostki pomiarowej CBI402
Skontaktuj się teraz -
Podkartka PXI SMU 10V 200mA do testowania wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych
Skontaktuj się teraz
Powiązane filmy
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
1200V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania do badania napięcia awaryjnego IGBT
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 25, 2025
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
