Kanal wideo Chin Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Czat Skontaktuj się z nami
Do domu filmy Lista odtwarzania Website

300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT

Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
Category Connection: Wyposażenie wysokiego prądu
Czat Skontaktuj się z nami
prąd impulsowy, 20V@300A i napięcie obciążenia wyjściowego pulsu ≤ 500, szerokość pulsu prądu 50μs-1ms i czas wzrostu prądu 10μs, idealny do testowania płytek i czasu reakcji czujników wysokiego prądu,Witamy na naszej stronie internetowej!
Znaków:
#źródło wysokiego prądu #źródło prądu impulsowego #Programowalny zasilacz
Powiązane filmy
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s 00:24

Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
Karta pozyskiwania danych
February 26, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN 00:30

10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI 00:34

Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT 00:24

1000A/18V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL100 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Źródłowa jednostka miary
February 25, 2025
18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403 00:28

18V/1A Czterokanałowa jednostka pomiarowa źródła impulsu podkart CBI403
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność 01:24

PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100 00:36

1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość 00:27

2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402 00:24

10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300 00:24

3500V/100mA Wysokonapięciowe źródło zasilania E300
Źródło mocy wysokiego napięcia
February 25, 2025