10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
moc na kanał, idealna do zastosowań o dużej objętości, takich jak walidacja urządzeń zasilania i testowanie płytek wielo-sondowych, Witamy na naszej stronie internetowej!
Urządzenia do badań wielokanałowych
-
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Źródło jednostki pomiarowej CBI402
Skontaktuj się teraz -
10V 500mA PXI Jednostka pomiarowa źródła podkarty pulsu PXI SMU Jednostka CBI401
Skontaktuj się teraz -
18V 1A Cztery kanały podkarty Puls źródła jednostka pomiarowa CBI403 SMU pomiar
Skontaktuj się teraz -
18V 1A PXI SMU Cztery kanały podkarty źródła prądu stałego jednostka licznika CS402
Skontaktuj się teraz -
Podkartka PXI SMU 10V 200mA do testowania wysokiej przepustowości w środowiskach równoległych
Skontaktuj się teraz
Powiązane filmy
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
Karta pozyskiwania danych
February 26, 2025
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025