10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Wprowadzenie PMST, 10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System zaprojektowany do precyzyjnego testowania półprzewodników MOSFET, BJT, IGBT i SiC GaN,o pojemności nieprzekraczającej 10 W, dokładne pomiary na poziomie μΩ i możliwości pomiarów prądu na poziomie nA, obsługujące pomiary pojemności połączenia i konfigurację modułową do elastycznych badań,Witamy na naszej stronie!
Systemy badawcze półprzewodników
-
10kV/6000A Analizator urządzenia zasilania Test statyczny PMST dla Mosfet BJT IGBT SiC GaN półprzewodnik
Skontaktuj się teraz -
1200V/100A Analytyk parametrów półprzewodników SPA6100 Systemy badań półprzewodników
Skontaktuj się teraz -
System badań C-V urządzeń półprzewodnikowych 10Hz-1MHz
Skontaktuj się teraz -
1000A System badań czujników prądu CTMS Sprzęt do badań półprzewodników
Skontaktuj się teraz -
Systemy badawcze półprzewodników LDBI z laserowym starzeniem
Skontaktuj się teraz
Powiązane filmy
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
S300 Jednostka pomiarowa źródła prądu stałego 300V/1A do badania właściwości elektrycznych
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
30V/1A/10A Badanie półprzewodników Czterokwadrantowe działanie Pulsomierz źródła P100
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
Jednostka pomiarowa źródła impulsu prądu wysokiego 100 V/100 A HCP300 dla IGBT
Źródłowa jednostka miary
February 24, 2025
300V/30A Dwu-kanałowy licznik źródła DP300B do różnych badań charakterystyki elektrycznej
Dwu kanałowy licznik źródła
February 24, 2025
Karta pozyskiwania danych A400 z 16-bitową rozdzielczością ADC i prędkością pobierania próbek 1 ms/s
Karta pozyskiwania danych
February 26, 2025