300V/1A Jednokanalizowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300
Jest idealny do testowania urządzeń półprzewodnikowych, badań nad nanomateriałami,walidacja efektywności energetycznej urządzeniaWitamy na naszej stronie internetowej!
Urządzenia do badań wielokanałowych
-
300V 1A modułowa jednostka SMU jednokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS300
Skontaktuj się teraz -
10V 500mA PXI Jednostka pomiarowa źródła podkarty pulsu PXI SMU Jednostka CBI401
Skontaktuj się teraz -
18V 1A Cztery kanały podkarty Puls źródła jednostka pomiarowa CBI403 SMU pomiar
Skontaktuj się teraz -
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Źródło jednostki pomiarowej CBI402
Skontaktuj się teraz -
18V 1A PXI SMU Cztery kanały podkarty źródła prądu stałego jednostka licznika CS402
Skontaktuj się teraz
Powiązane filmy
10V/500mA Czterokanałowa podkartka źródła prądu stałego jednostka pomiarowa CS401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/500mA Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI401
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10V/1A Czterokanałowa podkartka pomiarowa źródła impulsu CBI402
Urządzenia do badań wielokanałowych
February 24, 2025
10kV/6000A System analizatora urządzeń zasilania PMST do półprzewodników MOSFET BJT IGBT i SiC GaN
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
300A/30V wysokoprężne zasilacze impulsowe HCPL030 do badań SiC/IGBT/GaN HEMT
Wyposażenie wysokiego prądu
February 25, 2025
2 MS/s Wielokanalizowana karta pozyskiwania danych A400B Board Wysoka prędkość
Źródłowa jednostka miary
February 26, 2025
Wielokanalizowy system starzenia laserowego o dużej mocy LDBI
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025
PRECISE Instrument. Źródło eksploracji wewnętrzna i zewnętrzna spójność
Inne filmy
February 17, 2025
1200V/100A analizator parametrów półprzewodników SPA6100
Systemy badawcze półprzewodników
February 26, 2025